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X熒光膜厚儀

簡要描述:

X熒光膜厚儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,一種無損、快速、精確的膜厚測試儀器,對金屬鍍層(鍍金、鍍錫、鍍鋅、鍍鋁、鍍鉛、鍍銀、鍍鎳等),廣泛應用于電路板、連接器、金屬絲、鏈接插件、引線框架、汽車零部件、半導體、電子產品、五金工具等企業中,打破了國外(例如:德國Fischer)壟斷局面,在電鍍行業占有 一定地位,為

X熒光膜厚儀產品介紹

 

X熒光膜厚儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,一種無損、快速、精確的膜厚測試儀器,對金屬鍍層(鍍金、鍍錫、鍍鋅、鍍鋁、鍍鉛、鍍銀、鍍鎳等),廣泛應用于電路板、連接器、金屬絲、鏈接插件、引線框架、汽車零部件、半導體、電子產品、五金工具等企業中,打破了國外(例如:德國Fischer)壟斷局面,在電鍍行業占有 一定地位,為企業提供有效解決方案。

 

X熒光膜厚儀技術參數

 

長期工作穩定性高,故障率低。

多變量非線性回收程序

相互獨立的基體效應校正模型

元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)中間的任意金屬鍍層(鍍金、鍍錫、鍍鋅等)

一次可同時分析多達五層鍍層,快速、準確。

zui薄可測試0.005μm

分析含量一般為2ppm99.9% 

鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)

任意多個可選擇的分析和識別模型

度適應范圍為15℃30℃

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源

儀器尺寸:576W) x 495 D) x 545H) mm

重量:90 kg

 

性能優勢

 

鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

zui小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊

 

檢測實例

 

銅鍍鎳樣品

 

X熒光膜厚儀測試譜圖

 

樣 品 名

成分Ni(%)

鍍層Ni(um)

吊扣

100

19.321

吊扣2#

100

19.665

吊扣3#

100

18.846

吊扣4#

100

19.302

吊扣5#

100

18.971

吊扣6#

100

19.031

吊扣7#

100

19.146

平均值

100

19.18314

標準偏差

0

0.273409

相對標準偏差

0

1.425257

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